由我院王宸博士等人完成的一篇关于微波平面传感器领域的研究成果：“A high sensitivity planar electric–magnetic isolated sensor for full characterization of magneto-dielectric materials“被传感器领域国际TOP期刊Measurement录用并出版。

微波材料因其在高性能天线和微波元件设计中的应用而受到广泛关注。通常，它们的介电常数和磁导率是这些元件设计的关键参数。然而，这些参数的完全表征面临着介电常数和磁导率之间的耦合挑战。为了解决这个问题，论文提出并验证了一种基于平面谐振结构的电磁隔离传感器。该传感器使用多个短路引脚来分离电区域和磁区域，有效地减少了介电常数和磁导率之间的测量耦合。这些短路引脚形成磁腔管脚（MCP）结构。谐振单元用于介电常数测量，而MCP结构用于测量磁导率并提升灵敏度。为了进一步提高品质因数，在微带线上集成金属贴片和贴片电阻。此外，磁腔提供了更多的测量空间，使得在超宽带（UWB）范围内测量成为可能。传感器整体结构如图1所示，通过集成这些技术，传感器可以高灵敏度全面表征微波材料的电磁特性。在对实际样品测量后，结果表明磁导率实部和虚部的测量误差小于3%和4.5%。介电常数误差分别小于2.6%和6.4%。成果论文题目为“A high sensitivity planar electric–magnetic isolated sensor for full characterization of magneto-dielectric materials”，由我院王宸博士为第一作者。

图1 传感器结构设计图

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